***¹ÝµµÃ¼¿ë¾î¿¡ °üÇØ °£·«È÷ ±â·ÏÇÑ °ÍÀÔ´Ï´Ù.***

Acceptor

¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀÚƯ¼ºÀ» p-TypeÀ¸·Î Çü¼ºÇϱâÀ§ÇÑ ºÒ¼ø¹° ¿øÀÚ·Î ¿ø¼ÒÁÖ±âÀ²Ç¥»óÀÇ 3Á· ¿øÀÚ(Boron, Gallium and Indium)¸¦ ¸»Çϸç, Germaium(Ge)À̳ª Silicon(Si)°ú °°Àº ´ÙÀ̾Ƹóµå °áÁ¤±¸Á¶·Î °øÀ¯°áÇÕÀ» ÇÏ°í ÀÖ´Â ¹ÝµµÃ¼ °áÁ¤¼Ó¿¡ ºÒ¼ø¹°(Dopant)·Î¼­ ¹Ì·® È¥ÇÕÇϸé 3°¡ÀÇ ¿øÀÚ´Â ¹ÝµµÃ¼ ¿øÀÚ·Î ºÎÅÍ ÀüÀÚ 1°³¸¦ ÃëÇÏ¿© ¿ÏÀüÇÑ °áÁ¤±¸Á¶ÀÇ °øÀ¯°áÇÕÀ» ÀÌ·ç·Á´Â ¼ºÁúÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ¹°Áú·Î µÈ´Ù.

Acetic Acid
CH3COOH

¹«»ö, Èֹ߼º ±âü·Î ´ÞÄÞÇÑ ³¿»õ°¡ ³ª¸ç, Çã¿ë³óµµ´Â 1000 ppm, ÀÎÈ­Á¡ 43¡ÆCÀÇ ¼ºÁúÀ» °®°í ÀÖ´Â È­ÇÕ¹°ÀÌ´Ù. ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤¿¡¼­ Ç¥¸é Cleaning ¶Ç´Â Nitride Acid(HNO3), Hydrofluoric Acid(HF) µî°ú ÇÔ²² ¼¼Á¤ °øÁ¤ µî¿¡¼­ Uniformity µîÀ» ÁÁ°Ô ÇÏ´Â ¿ÏÃæ ¿ë¾×À¸·Î »ç¿ëµÈ´Ù.

Active Element

ÀüÀÚºÎÇ°À» ´Éµ¿¼ÒÀÚ¿Í ¼öµ¿¼ÒÀÚ·Î ³ª´©¾î »ý°¢ÇÏ´Â °æ¿ì°¡ Àִµ¥, ´Éµ¿¼ÒÀÚ´Â ºñ¼±Çü(Nonlinear) Ư¼ºÀ» ÀÌ¿ëÇÏ´Â ¼ÒÀÚ·Î ´ëÇ¥ÀûÀÎ °ÍÀ¸·Î´Â Áø°ø°ü, Transistor, FET(Field Effect Transistor), Diode µîÀÌ ÀÖ´Ù.

Alloy

µÎ Á¾·ù ÀÌ»óÀÇ ±Ý¼ÓÀÌ ¿ëÀ¶ÇÏ¿© È¥ÇյǴ Çö»ó ¶Ç´Â ±× °á°ú·Î ¾ò¾îÁø È¥ÇÕ ±Ý¼ÓÀ» ¸»ÇÑ´Ù.
¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤¿¡ À־ ÇÕ±Ý °úÁ¤Àº n-Type ¹ÝµµÃ¼ÀÎ Germaium(Ge)À§¿¡ Indium(In)ÀÇ ÀÔÀÚ¸¦ ¾ñ¾î °í¿Â¿¡¼­ ¿ëÇؽÃÅ°´Â °Í°ú °°Àº °úÁ¤À¸·Î ÁøÇàµÇ¸ç, À̶§ ¹ÝµµÃ¼ ¹°Áú°ú ºÒ¼ø¹° ÀÔÀÚ´Â Ohm¼º Á¢ÃËÀ» ÀÌ·ç´Âµ¥ ÀÌ·¯ÇÑ Çü½ÄÀ¸·Î ÀÌ·ç¾îÁø PN Á¢ÇÕÀ» ÇÕ±ÝÁ¢ÇÕ(Alloy Junction)À̶ó ÇÑ´Ù.
PNÁ¢ÇÕÀ» ¸¸µå´Â ¹æ¹ýÀ¸·Î´Â ÇÕ±ÝÁ¢ÇÔÀÌ¿Ü¿¡ °áÁ¤À» ¼ºÀå½ÃÅ°´Â °úÁ¤¿¡¼­ Á¡Â÷·Î ºÒ¼ø¹°À» ÅõÀÔÇÏ´Â ¼ºÀåÁ¢ÇÕ(Growing Junction), °í¿Â¿¡¼­ ºÒ¼ø¹°À» ±âü »óÅ·κÎÅÍ È®»êÇÏ´Â È®»êÁ¢ÇÕ(Diffused Junction), Àüµµ ÇüÅ°¡ ´Ù¸¥ ¹ÝµµÃ¼¸¦ Á¡Â÷·Î ¿¡ÇÈÅ×¼È(Epitaxial) ¼ºÀå½ÃÅ°´Â ¿¡ÇÈÅ×¼ÈÁ¢ÇÕ(Epitaxial Junction), ºÒ¼ø¹° ¿øÀÚ¸¦ ÀÌ¿ÂÈ­ÇÑ ´ÙÀ½ °íÀü°è·Î °¡¼ÓÇÏ¿© ¹ÝµµÃ¼¿¡ ÁÖÀÔÇÏ´Â ÀÌ¿Â ÁÖÀÔ °øÁ¤(Ion Implant) µîÀÌ ÀÖ´Ù.

Aluminum
Al

¿øÀÚ¹øÈ£ 13ÀÎ 3Á· ¿ø¼Ò·Î ¹ÝµµÃ¼ ±â¼ú¿¡¼­ Multilevel MetallizationÀ» Æ÷ÇÔÇÑ IC Metallization¿¡¼­ °¡Àå ÀÚÁÖ »ç¿ëµÇ´Â ±Ý¼Ó¿ø¼Ò. ¼ø¼ö Alº¸´Ù Al Alloy³ª ¶Ç´Â ´Ù¸¥ Metal°úÀÇ Á¶ÇÕ¿¡ ÀÇÇؼ­ »ç¿ëµÇ¸ç, ³·Àº Sheet Resistance¿Í SiO2, Si3N4¿Í ÁÁÀº Adherence¸¦ °¡Áö°í ÀÖÀ¸¸ç, ÁõÂøÀÌ ½±°í, PatternÇü¼ºÀÌ ¿ëÀÌ ÇÏ´Ù´Â ÀåÁ¢ÀÌ ÀÖ´Ù. ÀÌ °ÍÀº Áø°øÁõÂø(Vacuum Evaporation)À̳ª Sputtering ¹æ¹ýÀ» ÀÌ¿ëÇÏ¿© ÈíÂø½ÃŲ´Ù.

Ambient

È®»ê(Diffusition) ¶Ç´Â ÀÌ¿Â ÁÖÀÔ °øÁ¤(Ion Implant)À» ÁøÇàÇÒ¶§ ÁÖÀ§ÀÇ Carrier Gas Á¾·ù¸¦ ¸»ÇÑ´Ù.

Analog IC

Digital IC¿¡ ¹Ý´ëµÇ´Â ¸»·Î¼­ Analog SignalÀ» Ãë±ÞÇÏ´Â ÁýÀûȸ·Î¸¦ ¸»ÇÑ´Ù. Analog IC¸¦ Ư¼º¿¡ µû¶ó ºÐ¸®ÇÏ¸é ¼±Çü µ¿ÀÛ¸¸À» ´ë»óÀ¸·Î ÇÑ Linear IC¿Í ºñ¼±Çü µ¿ÀÛÀ» ÇÏ´Â Nonlinear IC·Î ³ª´©¾î Áø´Ù. ±×·¯³ª Linear IC¶ó´Â ¸»Àº Digital IC¿¡ ´ëºñÇؼ­ »ç¿ëÇÏ´Â °æ¿ì°¡ ¸¹À¸¸ç, ÀÌ °æ¿ì¿¡´Â ³ÐÀº ¶æ¿¡¼­ Analog IC¿Í °°Àº ¿ë¾î·Î »ç¿ëµÈ´Ù.

Anion

Çϳª ¶Ç´Â ±×ÀÌ»óÀÇ ÀüÀÚ¸¦ ¾ò¾î À½Àü±â¼ºÀ¸·Î º¯È­µÈ IonÀÎ ¿ø¼Ò(atom) ¶Ç´Â ºÐÀÚ(molecule)

Argon
Ar

¾Æ¸£°ï, ¿øÀÚ¹øÈ£ 18ÀÎ 0Á· ºÒÈ°¼º ¿ø¼Ò·Î »ê¼Ò¿Í ÃëȯÇϸç, ¹«»ö, ¹«Ãë, ºñ°¡¿¬¼ºÀÇ ¼ºÁúÀ» °®´Â´Ù.
¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤¿¡¼­ Particle µîÀÇ ¿À¿°ÀÌ ½É°¢ÇÏ°Ô ¿µÇâÀ» ¹ÌÄ¡´Â Sputtering ¹× Ion ImplantÀÇ Carrier Gas·Î »ç¿ëµÇ¸ç, MOS DeviceÀÇ Annealing Gas·Î ¶Ç´Â Plasma Etchingµî¿¡ »ç¿ëµÈ´Ù.

ASIC

Application Socific Integrated Circuit
¹ü¿ë IC¿Í´Â ´Þ¸® »ç¿ëÀÚÀÇ ÁÖ¹®¿¡ µû¶ó Á¦Á¶µÇ´Â ÁÖ¹®Çü IC¸¦ À§¹ÌÇÔ. Ç¥ÁØÈ­ µÇ¾î ÀÖÁö ¾Ê°í ƯÁ¤ »ç¿ëÀÚÀÇ ÁÖ¹®¿¡ ÀÇÇØ Á¦À۵Ǵ IC·Î¼­ ¹Ý ÁÖ¹®Çü(Semi-custom)°ú ¿ÏÀü ÁÖ¹®Çü(Full-custom) ICÀÇ ÃÑĪÀÌ´Ù. ASICÀ̶ó´Â ´Ü¾î´Â ¹Ì±¹ÀÇ Dataquest(ÀüÀÚÁ¤º¸ °ü·Ãȸ»ç)¿¡¼­ óÀ½ ¸í¸íÇÑ ¸»·Î ´ëÇ¥ÀûÀÎ Á¦Ç°À¸·Î´Â Gate Array¿Í Standard CellÀÌ ÀÖ´Ù.

BB Rate

Book to Bill Ratio
¹ÝµµÃ¼ ½ÃÀåÀÇ ¼ö¿ä¿Í °ø±ÞÀÇ ½Ç»óÀ» ³ªÅ¸³»´Â ÁöÇ¥·Î¼­ ±× °ªÀÌ 1.0ÀÏ ¶§´Â ¼ö¿ä¿Í °ø±ÞÀÇ ±ÕÇüÀ» ³ªÅ¸³»¸ç, 1.0º¸´Ù ÀÛÀ» ¶§´Â °ø±Þ°úÀ×À¸·Î °¡°ÝÇ϶ôÀ» ÃÊ·¡Çϸç, 1.0 ÀÌ»óÀÏ ¶§´Â °ø±ÞºÎÁ·À» ³ªÅ¸³»¾î °¡°Ý »ó½ÂÀ» °¡Á®¿Â´Ù.

Bipolar

Bi´Â 2, Polar´Â Polarity, Áï ±Ø¼ºÀ» ¶æÇϹǷΠBipolar´Â ½Ö±Ø¼º ¶Ç´Â 2±Ø¼ºÀ̶ó´Â ¶æÀ¸·Î ¼ÒÀÚÀÇ µ¿ÀÛ¿¡ ´Ù¼ö Carrier¿Í ¼Ò¼ö Carrier, Áï ÀüÀÚ(Electron)¿Í Àü°ø(Hole)ÀÇ ¾çÂÊÀÌ °ü¿©ÇÏ°í ÀÖ´Â °ÍÀ» ÀǹÌÇÑ´Ù. BipolarÀÇ °¡Àå ÁÁÀº ¿¹°¡ º¸ÅëÀÇ TransistorÀÎ Á¢ÇÕÇü Transistor·Î¼­ ÀüÀÚ¿Í Á¤°ø ¾çÂÊÀÇ µ¿ÀÛÀ¸·Î Transistor ÀÛ¿ëÀÌ ¾ò¾îÁø´Ù.

Bipolar Transistor

TransistorÀÇ µ¿ÀÛ¿¡ ÀüÀÚ(Electron)¿Í Àü°ø(Hole)À» µ¿½Ã¿¡ ÀÌ¿ëÇÏ´Â Transistor¸¦ ¸»Çϸç, ÀÌ°Í¿¡ ´ëÀÀÇÏ´Â ¸»¿¡ Unipolar Transistor°¡ Àִµ¥, ÀÌ´Â ÀüÀÚ ¶Ç´Â Àü°ø ÁßÀÇ ¾î´À ÇÑ Âʸ¸À» ÀÌ¿ëÇÏ´Â Transistor·Î MOS Transistor°¡ ´ëÇ¥ÀûÀÎ ¿¹ÀÌ´Ù.

Buffer

È­ÇйÝÀÀ¿¡ À־ ½ÇÁ¦·Î ¹ÝÀÀÇÏ´Â IonÀÇ ¼ö¸¦ ÀÏÁ¤ÇÏ°Ô À¯Áö½ÃÄÑ »ê(Acid)À̳ª ¿ëÁ¦ÀÇ È­ÇйÝÀÀ »óÅÂÀÇ ±Þ°ÝÇÑ º¯È­¸¦ ¸·¾ÆÁִ ÷°¡¹°.

Capacitor

Carrier

¹ÝµµÃ¼ ¹°Áú³»¿¡¼­ Àü±âÁ¤º¸¸¦ Àü´ÞÇÏ´Â ¸ÅüÀÎ ÀüÀÚ(Electron)¿Í Àü°ø(Hole)

CCD

Charge Coupled Device
ºû µî¿¡ ÀÇÇØ À¯±âµÈ Carrier¸¦ Àü¼Û½ÃÄÑ ¾Æ³¯·Î±× ½ÅÈ£·Î ²¨³»´Â ±â´ÉÀ» Áö´Ñ ¼ÒÀÚ·Î 1970³â¿¡ BTLÀÇ Boyle µî¿¡ ÀÇÇØ ¹ßÇ¥µÈ ¼ÒÀÚÀÌ´Ù. ÀÚ±â ÁÖ»ç±â´É°ú ±â¾ï ±â´ÉÀ» °âºñÇÑ °£´ÜÇÑ MOS±¸Á¶¸¦ ¸»ÇÑ´Ù.

Cell

±â¾ï¼ÒÀÚ³»¿¡ Data¸¦ ÀúÀåÇϱâ À§ÇØ ÇÊ¿äÇÑ ÃÖ¼ÒÇÑÀÇ ¼ÒÀÚ ÁýÇÕÀ» ÁöĪÇÔ. D·¥ÀÇ ¼¿(Cell)Àº 1°³ÀÇ Transistor¿Í 1°³ÀÇ Capacitor·Î ±¸¼ºµÇ¾îÀÖ´Ù.

Channel

FET(Field Effect Transistor)ÀÇ Gate ¾Æ·¡ ºÎºÐÀÎ Source¿Í Drain»çÀÌ¿¡ Çü¼ºµÈ ´Ù¼ö CarrierÀÇ Åë·Î¸¦ ¸»Çϸç Àü·ù°¡ È帣´Â ±æ. FET¿¡¼­´Â ÀÌ Ã¤³ÎÀÇ ÇüÅ¿¡ µû¶ó Àü·ùÀÇ È帧ÀÌ ´Þ¶óÁö´Âµ¥ ÀÌ°ÍÀº Gate¿¡ °¡ÇÑ Àü¾ÐÀ¸·Î Á¦¾îÇÑ´Ù. P-Channel°ú N-Channel µÎ°¡Áö°¡ ÀÖ´Ù.

Chip

Wafer»ó¿¡ ¼ÒÀÚ°¡°øÀÌ ³¡³­ »óÅÂÀÇ °³°³ÀÇ IC¸¦ ¸»Çϸç, Die, Pellet°ú °°Àº ÀǹÌÀÇ ¿ë¾îÀÌ´Ù.

CMOS

Complementary Metal Oxide Semiconductor
P-Channel°ú N-Channel MOS¸¦ ÇϳªÀÇ È¸·Î¿¡ µ¿½Ã¿¡ ±¸¼ºÇÏ¿© ´ÜÀ§ TransistorÀÇ ±â´ÉÀ» ¹ßÈÖÇÏ°Ô ÇÑ ICȸ·Î·Î¼­ ¼ÒºñÀü·ÂÀÌ ÀÛÀº ÀåÁ¡À» °¡Áö°í ÀÖ´Ù.

Contamination

¹ÝµµÃ¼ Wafer¿¡ ¹°¸®Àû È­ÇÐÀû Ư¼º¿¡ ¿µÇâÀ» ÁÖ´Â ¹°ÁúÀ» ¸»ÇÑ´Ù.

Contact

ÀûÃþµÇ¾î ÀÖ´Â ÀüµµÃþµéÀ» ¿¬°á½ÃÄÑ ÁÖ±â À§ÇÏ¿© Àý¿¬¹°¿¡ ±¸¸ÛÀ» ¶ÕÀº°ÍÀ» ¸»ÇÑ´Ù.

CPU

Central Processing Unit
ComputerÀÇ ÀϺκÐÀ¸·Î¼­ ¸í·ÉÀ» ¼öÇàÇϱâ À§ÇÑ Áö½Ã³ª Á¦¾î, ¿¬»ê±â´ÉÀ» °®°í ÀÖ´Â ºÎºÐÀ¸·Î Àΰ£ÀÇ µÎ³ú¿¡ ÇØ´çÇÏ´Â ºÎºÐ

Critical Dimension

MaskÀÇ Çü»óÀ» Wafer¿¡ ¿Å±â´Â °úÁ¤¿¡¼­ Wafer¿¡ ÀçÇöµÈ PatternÀÇ ÃÖ¼Ò ¼±ÆøÀ» ¸»ÇÏ´Â °ÍÀ¸·Î Á¤ÇØÁø CD°ªÀ» ¸¸Á·½ÃÄÑ¾ß ¿øÇÏ´Â Device¸¦ ±¸¼ºÇÒ ¼ö ÀÖ´Ù.

Cum Yield

FAB IN¿¡¼­ Á¦Ç°À» ÃâÇÏÇϱ⠱îÁö 4Group(FAB, PROBE, PKG, TEST) Yield¸¦ ÇÕ»êÇÑ ¼öÀ².

Device

´Éµ¿Àû ±â´É, ºñÁ÷¼±Àû ±â´É, º¯È¯ ±â´É µî°ú °°Àº Ư¼öÇÑ ±â´ÉÀ» °¡Áø ºÎÇ° ¶Ç´Â ÀåÄ¡¸¦ ¸»Çϸç, °¡°ø ¶Ç´Â Á¶¸³ÀÌ ¿Ï·áµÈ Á¦Ç°À» ¸»ÇÑ´Ù.

Die

Wafer»ó¿¡ ¼ÒÀÚ°¡°øÀÌ ³¡³­ »óÅÂÀÇ °³°³ÀÇ IC¸¦ ¸»Çϸç, Chip, Pellet°ú °°Àº ÀǹÌÀÇ ¿ë¾îÀÌ´Ù.

Dielectric

Àý¿¬Ã¼ ¶Ç´Â À¯Àüü·Î¼­ Àü¾ÐÀ» °É¾úÀ» ¶§ Àü·ù¸¦ È긮Áö ¸øÇÏ´Â ¹°Áú·Î ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤¿¡ ¾²ÀÌ´Â À¯Àüü´Â Silicon Dioxide(SiO2)¿Í Silicon Nitride(Si3N4)µîÀÌ ÀÖ´Ù.

Diode

Di-Electrode¸¦ ÁÙÀÎ ¸»·Î½á ¿ø·¡´Â 2±Ø ¼ÒÀÚ ¸ðµÎ¸¦ ¶æÇÏ´Â °ÍÀ̳ª ÀϹÝÀûÀ¸·Î ¹ÝµµÃ¼ÀÇ 2±Ø ¼ÒÀÚ¸¦ °¡¸®Å°´Â °æ¿ì°¡ ¸¹À¸¸ç, ±× Áß¿¡¼­µµ PN Junction Diode°¡ ¸¹À¸¹Ç·Î ÈçÈ÷ Diode¶ó°í Çϸé PN Junction Diode¸¦ ÀǹÌÇϱ⵵ ÇÑ´Ù. Áï Diode´Â Àü·ù¸¦ ÇÑÂÊ ¹æÇâÀ¸·Î¸¸ È帣°Ô ÇÏ´Â µÎ ´ÜÀÚ ¼ÒÀÚÀÌ´Ù.

DI Water

De-Ionized Water
¹°¼Ó¿¡ ³ì¾ÆÀÖ´Â ¹«±â¹° µîÀ» Á¦°ÅÇÏ¿© ¼¼Ã´¿¡ »ç¿ëÇÏ´Â Å» À̿¼öÀÌ´Ù.

Doner

¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀÚÀÇ Æ¯¼ºÀ» n-TypeÀ¸·Î Çü¼ºÇϱâ À§ÇÏ¿© Àüµµ´ë¿¡ ÀÚÀ¯ÀüÀÚ¸¦ ÁÖÀÔÇÏ´Â ºÒ¼ø¹° ¿øÀÚ·Î ¿ø¼ÒÁÖ±âÀ²Ç¥»óÀÇ 5Á· ¿øÀÚ(Phosphorus and Arsenic)¸¦ ¸»Çϸç, Germaium(Ge)À̳ª Silicon(Si)°ú °°Àº ´ÙÀ̾Ƹóµå °áÁ¤±¸Á¶·Î °øÀ¯°áÇÕÀ» ÇÏ°í ÀÖ´Â ¹ÝµµÃ¼ °áÁ¤¼Ó¿¡ ºÒ¼ø¹°(Dopant)·Î¼­ ¹Ì·® È¥ÇÕÇϸé 5°¡ÀÇ ¿øÀÚ´Â ¹ÝµµÃ¼ ¿øÀÚ¿¡ ÀüÀÚ 1°³¸¦ ÁÖ¾î ¿ÏÀüÇÑ °áÁ¤±¸Á¶ÀÇ °øÀ¯°áÇÕÀ» ÀÌ·ç·Á´Â ¼ºÁúÀÇ ¹ÝµµÃ¼ ¹°ÁúÀÌ´Ù.

Drain

FET(Field Effect Transistor)ÀÇ Àü±ØÀÇ Çϳª¸¦ ¸»ÇÑ´Ù. DrainÀº Àü·ù°¡ Èê·¯ µé¾î°¡´Â Àü±ØÀ̸ç, Åë»óÀÇ »ç¿ë¹ýÀÎ SourceÀÇ Á¢Áö ¹æ½Ä¿¡¼­´Â ÃâÀ» ²¨³»´Â Àü±ØÀÌ µÈ´Ù. Áï Bipolar TransistorÀÇ Collector¿¡ ÇØ´çÇÏ´Â Àü±ØÀ̶ó°í ÇÒ ¼ö ÀÖ´Ù.

DRAM

Dynamic Random Access Memory
Á¤º¸¸¦ ÀÐ°í ¾µ¼ö ÀÖ´Â ÀåÄ¡.
¹ÝµµÃ¼ MemoryÁß MOS Transistor¸¦ »ç¿ëÇÑ Æ¯À¯ÀÇ Memory ¹æ½ÄÀÌ Dynamic MemoryÀε¥, ÀÌ°ÍÀº MOS TransistorÀÇ Gate¿¡ ÃàÀûµÈ ÀüÇÏ°¡ ¹æÀüÇϴµ¥ ½Ã°£ÀÌ °É¸®´Â Á¡À» ¿ªÀ¸·Î ÀÌ¿ëÇÑ °ÍÀÌ´Ù. ¶ÇÇÑ RAMÀ̶õ ÄÄÇ»ÅÍ¿¡¼­ Á¤º¸ÀÇ Wirte¿Í Read°¡ ÀÚÀ¯·Î¿î Memory¸¦ ¸»ÇÑ´Ù. DRAMÀº Capacitor¿¡¼­ Àü±â¸¦ ÃàÀû½ÃÅ°´Â ÇüÅ·ΠÁ¤º¸¸¦ ±â¾ï, ReadÇÏ´Â MemoryÀ̸ç, Capacitor·ÎºÎÅÍ Àü±â°¡ Èê·¯¹ö¸®±â ¶§¹®¿¡ Ç×»ó Á¤º¸¸¦ ´Ù½Ã ÀÔ·ÂÇÏ´Â ±â¾ï À¯Áö µ¿ÀÛ(Refresh)ÀÌ ÇÊ¿äÇÏ´Ù. CellÀÇ Å©±â°¡ ÀÛ¾Æ °íÁýÀûÈ­°¡ °¡´ÉÇϸç, ¼ö½Ã·Î º¯ÇÏ´Â Á¤º¸¸¦ ÀϽÃÀûÀ¸·Î ±â¾ï½ÃÄÑ µÎ´Âµ¥ ÀûÇÕÇϹǷΠÄÄÇ»ÅÍÀÇ Main Memoryµî¿¡ ÁÖ·Î »ç¿ëµÈ´Ù.

Dummy Wafer

»ý»ê Wafer¿Í °°ÀÌ ÅõÀÔµÇ¾î »ý»ê Wafer Ư¼ºÀÇ ±ÕÀϼºÀ» µµ¸ðÇϱâ À§ÇÏ¿© ÀåºñÀÇ Æ¯¼ºÀ» ¾Ë±â À§ÇØ »ç¿ëÇÏ´Â Wafer.

Electron

¿øÀÚÀÇ ÇÙ ÁÖÀ§¸¦ ȸÀüÇÏ´Â ÇÏÀüÀÔÀÚ·Î, ¿øÀÚ¿Í ¿øÀÚÀÇ °áÇÕÀº ÀÌ ÀüÀÚµéÀÇ °áÇշ¿¡ ÀÇÇØ ÀÌ·ç¾îÁö¸ç, °¡ÇØÁø Àü°è¿¡ ÀÇÇØ ¿øÀÚÇÙÀÇ ±¸¼ÓÀ¸·ÎºÎÅÍ ¹þ¾î³­ ÀüÀÚÀÇ À̵¿¿¡ ÀÇÇØ ±Ý¼ÓÀ̳ª ¹ÝµµÃ¼ÀÇ Àü±â Àüµµ Çö»óÀÌ ÀϾ´Ù. ÀüÀÚ´Â ÀüÇϸ¦ °¡Áö°í ÀÖÀ¸¹Ç·Î Àü°è³ª ÀÚ°è¿¡ ÀÇÇØ ¿îµ¿ÀÇ ¿µÇâÀ» ¹ÞÀ¸¸ç, ¿­¿¡³ÊÁö¿Í ºû¿¡³ÊÁö¿¡ ÀÇÇØ ¹°Áú ¿ÜºÎ·Î ¹æÃâµÇ±âµµ ÇÑ´Ù.

EM

Electro-Migration
¹è¼±¿¡ Àü·ù°¡ È带¶§ ¹è¼±À» ±¸¼ºÇÏ´Â ¿øÀÚ°¡ Joule-Heating¿¡ ÀÇÇÑ ¿Âµµ »ó½Â¿¡ ÈûÀÔ¾î ÀüÀÚ(Electron)ÀÇ È帧¿¡ ¹Ð·Á À̵¿(Migration) ÇÏ´Â Çö»óÀ» ÀǹÌÇÑ´Ù. EM ³»¼º¿¡ ¿µÇâÀ» ÁÖ´Â ¿äÀÎÀ¸·Î´Â ¹è¼±ÀÇ Á¾·ù(Material, °áÁ¤±¸Á¶, ¹Ì¼¼±¸Á¶), ¼±Æø, µÎ²², Contact ¹× Via ±¸Á¶, µ¿ÀÛ Àü·ù ¹Ðµµ, ±×¸®°í µ¿ÀÛ ¿Âµµ µîÀÌ´Ù.

EPROM

Erasable Programmable ROM
Àڿܼ± Á¶»çµî¿¡ ÀÇÇØ ÀúÀåµÈ Á¤º¸¸¦ Áö¿ì°Å³ª Àç±â¾ï½Ãų ¼ö ÀÖ´Â ±â¾ï¼ÒÀÚ·Î, Æǵ¶ Àü¿ë ±â¾ï¼ÒÀÚÀÇ ÀÏÁ¾ÀÌ´Ù.

FAB

FET

Field Effect Transistor
Bipolar Transistor¿Í ´Þ¸® ´Ù¼ö¹Ý¼ÛÀÚ Áï ÀüÀÚ³ª °ø ÁßÀÇ Çϳª¿¡ ÀÇÇÏ¿© Àü·ù°¡ Çü¼ºµÇ¸ç Gate Àü°è¿¡ ÀÇÇØ Àü·ù¸¦ Á¦¾îÇÏ´Â Transistor.

Flash Memory

EEPROM(Electrocally Erasable Programable ROM)ÀÇ ÀÏÁ¾À¸·Î ChipÀüü ȤÀº Block´ÜÀ§·Î ³»Àå DataÀÇ ¼Ò°Å°¡ °¡´ÉÇÏ°í ±âÁ¸ÀÇ EEPROM¿¡ ºñÇØ ½Ñ°¡°Ý¿¡ Á¦Á¶ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ºÒÈֹ߼º ±â¾ï¼ÒÀÚÀÌ´Ù.

Gate

FET(Field Effect Transistor)ÀÇ Á¦¾îÀü±Ø¿¡ ÇØ´çµÇ´Â °ÍÀ¸·Î Bipolar TransistorÀÇ Base´ÜÀÚ¿¡ ÇØ´çµÇ´Â ¿ë¾î.

Germaium
Ge

¿øÀÚ¹øÈ£°¡ 32ÀÎ 4Á· ¿ø¼Ò·Î Silicon°ú ÇÔ²² °¡Àå Àß ¾Ë·ÁÁø ¹ÝµµÃ¼ Àç·áÀÌ´Ù. 1886³â µ¶ÀÏÀÇ È­ÇÐÀÚ À®Å¬¸®¿¡ ÀÇÇØ ¹ß°ßµÇ¾î ±×ÀÇ Á¶±¹ µ¶ÀÏÀÇ À̸§À» ¶°¼­ ºÙ¿©Áø À̸§ÀÌ´Ù.

Hole

¹ÝµµÃ¼ ¼Ó¿¡¼­ °¡ÀüÀڴ뿪¿¡ ÀÖ´Â ÀüÀÚÀÇ À̵¿À¸·Î »ý±â´Â ºñ¾îÀÖ´Â ÀüÀÚÀÇ ÁØÀ§¸¦ ¸»Çϸç, Á¤°øÀ̶ó°í ÇÑ´Ù.

Impurty

Doner¿Í Accepter¿Í °°ÀÌ Æ¯Á¤ÇÑ ¸ñÀûÀ¸·Î ±âÆÇ¿¡ ÁÖÀÔÇÏ´Â ¹°Áú.

IC

Integrated Circuit
ÀÛÀº ¸éÀû¿¡ ¸¹Àº ÀüÀÚ È¸·Î°¡ ¼­·Î ¿¬°áµÇ¾î ÇϳªÀÇ È¸·Î·Î¼­ ±â´ÉÀ» °®°ÔÇÑ Á÷Á¢È¸·Î.

Inspection

WaferÀÇ ÀÌ»óÀ¯¹«¸¦ Çö¹Ì°æÀ̳ª À°¾ÈÀ¸·Î °Ë»çÇÏ´Â °øÁ¤.

Insulator

¹°ÁúÀÇ ¿¡³ÊÁö´ë ±¸Á¶¿¡ À־ Valance Band´Â ÀüÀÚ°¡ ²Ë Â÷ÀÖ°í Conduction Band¿Í Valance BandÀÇ ¿¡³ÊÁö GapÀÌ ¸Å¿ìÅ©¸ç Forbidden Band³»ÀÇ ºÒ¼ø¹°µî¿¡ ÀÇÇÑ ¿¡³ÊÁö ÁØÀ§°¡ Á¸ÀçÇÏÁö ¾Ê±â ¶§¹®¿¡ »ó¿Â¿¡¼­ Conduction Band, Valance Band¿¡ Àü±â¸¦ ¿î¹ÝÇÒ ¼ö ÀÖ´Â Carrier°¡ Á¸ÀçÇÏÁö ¾Ê¾Æ Àü±â°¡ ÅëÇÏÁö ¾Ê´Â ¹°ÁúÀ» ¸»ÇÑ´Ù.

Ion

¿øÀÚ°¡ ÀüÀÚ¸¦ ¾ò°Å³ª ÀÒÀº »óŸ¦ ¸»Çϸç, ¿øÀÚ°¡ ÀüÀÚ¸¦ ¾ò°Ô µÇ¸é À½ÀÇ ÀüÇϸ¦ ¶ì°ÔµÇ°í, ÀüÀÚ¸¦ ÀÒÀ¸¸é ¾çÀÇ ÀüÇϸ¦ ¶í´Ù. À½ÀüÇϸ¦ ¶ì´Â ÀÌ¿ÂÀ» À½ÀÌ¿Â, ¾çÀüÇϸ¦ ¶ì´Â ÀÌ¿ÂÀ» ¾çÀÌ¿ÂÀ̶ó°í ÇÑ´Ù.

IR

Implanted Resistor
Photo¿¡¼­ È®»ê(Diffusion)±îÁöÀÇ °øÁ¤À» ¸»ÇÑ´Ù.

Isolation

¹ÝµµÃ¼ ÁýÀûȸ·Î¿¡¼­´Â ÇϳªÀÇ Chip¼Ó¿¡ ¸¸µé¾îÁö´Â °¢°¢ÀÇ È¸·Î ¼ÒÀÚ¸¦ ¼­·Î ºÐ¸®ÇÏ¿© Àü±âÀûÀ¸·Î µ¶¸³µÈ »óÅ·Π¸¸µé¾î ³õÀ» ÇÊ¿ä°¡ Àִµ¥, ÀÌ°ÍÀ» ºÐ¸®(Seperation) ¶Ç´Â °í¸³(Isolation)À̶ó ÇÑ´Ù.

LCD

Liquid Crystal Display
¾×Á¤(Liquid Crystal)À» ÀÌ¿ëÇÑ ¹®ÀÚ³ª ¼ýÀÚÇ¥½ÃÆÇÀ¸·Î µÎ°³ÀÇ À¯¸®ÆÇ»çÀÌ¿¡ ¾×Á¤À» ³Ö°í Àü¾Ð¿¡ ÀÇÇÏ¿© ¿øÇÏ´Â ¹®ÀÚ¸¦ Ç¥½ÃÇϵµ·Ï ÇÑ ÀåÄ¡.

LED

Light Emitting Diode
¹ÝµµÃ¼ÀåÄ¡·Î¼­ Àü·ù°¡ Åë°úÇÒ ¶§¸¸ ºûÀ» ¹ß»êÇÏ´Â ´ÙÀÌ¿Àµå.

LOCOS

Local Oxidation of Silicon
Philips»ç¿¡ ÀÇÇؼ­ °³¹ßµÈ ºÎºÐ»êÈ­ °øÁ¤À¸·Î Silicon Nitride¸¦ »êÈ­ Mask·Î ÀÌ¿ëÇÏ¿©, MOS FETÁ¦Á¶½Ã Field ¿µ¿ªÀÇ »êÈ­¸·À» ¼ºÀå½ÃÅ°´Â ±â¼úÀÌ´Ù.

MCU

MPU¿¡ I/OºÎ¿Í ¸Þ¸ð¸®±â´ÉÀ» ÇϳªÀÇ Chip¿¡ ±¸ÇöÇÑ ³í¸®¼ÒÀÚ.

Module

±â¾ï¿ë·®ÀÇ Áõ°¡¸¦ À§ÇØ ÀÏÁ¤¿ë·®ÀÇ ±â¾ï¼ÒÀÚ¸¦ PCB»ó¿¡ Á¶ÇÕÇÑ Á¦Ç°.

MOS

Metal-Oxide-Semiconductor
Silicon ±âÆÇ(Semiconductor)À§¿¡ »êÈ­¸·(Oxide)À» Çü¼º½ÃÅ°°í ±×À§¿¡ Silicon Àü±Ø(Metal)À» Çü¼ºÇÏ¿© ÀüÀå(Electric Field)¿¡ ÀÇÇÑ Silicon Ç¥¸éÀÇ ÀüÇϸ¦ Á¶ÀýÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ±¸Á¶.

MPU

ÄÄÇ»ÅÍÀÇ Á¦¾îÀåÄ¡ÀÇ ¿¬»ê¹× ³í¸® ÀåÄ¡¸¦ ÇϳªÀÇ Chip»ó¿¡ ±¸ÇöÇÑ ³í¸®¼ÒÀÚ.

N-Channel

PÇü ±âÆÇ¿¡»çÀÌ¿¡ È帣´Â Àü·ùÀÇ Åë·ÎÀÎ ChannelÀÌ ÀüÀÚ¿¡ ÀÇÇؼ­ Çü¼ºµÈ °ÍÀ» ¸»ÇÑ´Ù.

N-Type

¹ÝµµÃ¼¿¡¼­´Â Àü±âÀüµµ¿¡ ±â¿©ÇÏ´Â Carrier°¡ ÀüÀÚ, Á¤°ø ¹× ±× ¾çÂÊ Áß ¾î´À °ÍÀÌ ÁÖü°¡ µÇ´Â°¡¿¡ µû¶ó¼­ ¼¼°¡Áö ÀüµµÇüÀ¸·Î ³ª´µ´Âµ¥, ±× Áß ÀüÀÚ°¡ CarrierÀÇ ÁÖü°¡ µÇ´Â ¹ÝµµÃ¼¸¦ n-Type ¹ÝµµÃ¼¶ó°í ÇÑ´Ù.

Passivation

Wafer¿¡ Àû¿ëµÇ´Â Silicon Nitride ¶Ç´Â Silicon DioxideÀÇ ÃÖÁ¾ º¸È£¸·À» ¸»ÇÑ´Ù.

P-Channel

NÇü ±âÆÇ¿¡ PÇü È®»ê¿µ¿ªÀ» Çü¼ºÇÑ MOS FET¿¡ À־ Àü·ùÀÇ Åë·ÎÀÎ ChannelÀÌ Àü°ø¿¡ ÀÇÇؼ­ Çü¼ºµÈ °ÍÀ» ¸»ÇÑ´Ù.

Probe

P-Type

¹ÝµµÃ¼¿¡¼­´Â Àü±âÀüµµ¿¡ ±â¿©ÇÏ´Â Carrier°¡ ÀüÀÚ, Á¤°ø ¹× ±× ¾çÂÊ Áß ¾î´À °ÍÀÌ ÁÖü°¡ µÇ´Â°¡¿¡ µû¶ó¼­ ¼¼°¡Áö ÀüµµÇüÀ¸·Î ³ª´µ´Âµ¥, ±× Áß Àü°øÀÌ CarrierÀÇ ÁÖü°¡ µÇ´Â ¹ÝµµÃ¼¸¦ p-Type ¹ÝµµÃ¼¶ó°í ÇÑ´Ù.

Quartz

Silicon »êÈ­¹°ÀÇ ´Ù¸¥ À̸§À¸·Î ³ôÀº ³»¿­¼ºÀ» °®°í ÀÖ¾î È®»ê Tube µîÀÇ ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ÀåÄ¡¿¡ ¸¹ÀÌ ¾²ÀδÙ.

SAM

Serial Access Memory
VIDEO REM ³»ºÎȸ·ÎÀÇ ÀϺημ­ Data Ãâ·Â½Ã Serial·Î Ãâ·ÂÀÌ °¡´ÉÇϵµ·Ï ÇØÁִ ȸ·Î.

Shrink Version

ÀÏÁ¤¸éÀû³»¿¡¼­ ´õ ¸¹Àº ±â¾ï¼ÒÀÚÀÇ È®º¸¸¦ À§ÇÏ¿© ±âÁ¸ÀÇ ½ÇÁ¦¸éÀûÀ» Ãà¼ÒÇÏ¿© Á¦Ç°È­ÇÑ Á¦Ç°.

Silicon

¿øÀÚ¹øÈ£ 14ÀÎ 5Á·ÀÇ ¿ø¼Ò(±Ô¼Ò)·Î¼­ ¹ÝµµÃ¼ Àç·á·Î ³Î¸® »ç¿ëµÈ´Ù.

Silicon Nitride
>Si3N4

ÀϹÝÀûÀ¸·Î Passivation, Masking, ¶Ç´Â Insulating Layer·Î »ç¿ëµÇ´Â ¹°Áú.

Silicon Dioxide
SiO2

SiliconÀÌ »ê¼Ò¿Í °áÇÕÇÑ »êÈ­¸·À¸·Î º¸Åë Oxide¶ó ºÎ¸¥´Ù.

Smock

ûÁ¤½Ç¿¡¼­ ÀÔ´Â ÀÛ¾÷º¹À» ¸»ÇÏ¸ç ¸ÕÁö°¡ ³ªÁö ¾ÊÀ¸¸ç ³»ºÎÀÇ ¸ÕÁöµµ ¹ÛÀ¸·Î ³ª¿ÀÁö ¾Ê´Â´Ù.

SRAM

Static Random Access Memory
Á¤º¸¸¦ ÀÐ°í ¾µ¼ö ÀÖ´Â ±â¾ï¼ÒÀڷμ­ ±â¾ï¼ÒÀÚ°¡ Latch±¸Á¶·Î µÇ¾îÀÖ¾î Àü¿øÀÌ °ø±ÞµÇ´Â ÇÑ Á¤º¸°¡ À¯ÁöµÈ´Ù.

Test

Transistor

¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀÚ·Î ¸¸µç ÁõÆø¼ÒÀÚ¸¦ ÀϹÝÀûÀ¸·Î Transistor¶ó°í Çϴµ¥, ÀÌ´Â Transfer Signal Through a VaristorÀÇ ¾à¾îÀÌ´Ù. ÃÖÃÊ¿¡ ¸¸µé¾îÁø °ÍÀÌ Á¡Á¢ÃËÇü Æ®·£Áö½ºÅÍÀ̸ç, ±×ÈÄ PNP ¶Ç´Â NPN Á¢ÇÕÀ» °¡Áø Æ®·£Áö½ºÅÍ¿Í Àü°èÈ¿°ú Æ®·£Áö½ºÅÍ°¡ µîÀåÇÏ¿´´Ù.

Tweezer

Wafer¸¦ Àâ´Âµ¥ »ç¿ëÇÏ´Â µµ±¸.

Wafer

Á÷Á¢È¸·Î¸¦ ¸¸µé±â À§ÇÑ ¹ÝµµÃ¼ ¹°ÁúÀÇ ´Ü°áÁ¤À» ¼ºÀå½ÃŲ ±âµÕ¸ð¾çÀÇ IngotÀ» ¾ã°Ô Àß¶ó¼­ ¿øÆǸð¾çÀ¸·Î ¸¸µç°Í.



ȨÀ¸·Î GOGOGO!